半导体技术是先进的电子技术的基础。现在世界，一些诸如智能手机、笔记本电脑、电视等设备电器已经无处不在，工程师称我们所处的时代为“半导体时代”。

现在，西北大学的Grayson教授领导的研究小组开发出一种新型半导体特性测试方法。与现有方法相比，该方法可以更加准确、有效和简单对半导体材料进行测试。

Grayson教授说：“半导体材料有很多广泛的应用，如电脑芯片、激光、相机成像系统等。面对这么多的半导体材料应用，如何可以仔细、准确地对其进行测试是研究的关键问题。非均匀性半导体通常会导致电脑芯片的失效、激光坏死、成像系统出现黑点等。”

这种新型方法需要测量半导体材料在磁场中的扭转。反转磁场后再进行相同的测量。通过这种方法，研究人员就可以确定整个半导体的导电均匀性。

高性能的半导体进行有效地工作是十分关键的，这需要半导体材料具有高度均匀性的电导。

Grayson教授说：“直到现在，每个人都需要单独对部分材料进行测量，并比较半导体不均匀程度带来的差异。这意味着人们需要花费很多的时间进行几种不同方式的测量，特殊材料还需要进行专门的检测。我们开发的新方法利用半导体材料在磁场中的翻转极性检测半导体样本中平均电子密度的变化。”

该新型方法通过测量样品的边缘就可以确定整个样本的导电率的变化。

半导体材料广泛应用于电子设备的原因之一就是因为其可调性。在半导体中添加杂质（如镓、砷）的过程称为掺杂，可以用来调整半导体性质。

要想使掺杂有效，杂质必须均匀分布在整个半导体中，确保半导体的每一部分进行相同方式的运作。Greyson的新技术使得半导体制造商可以直接观察半导体中可能出现的任何背景辐射。

Grayson教授说：“当人们看到产品出现不均匀性，通常会扔掉材料，找更好的产品代替。根据我们提供的信息，人们可以找出相比均匀性好一些的材料继续使用。当然，你也可以利用这些信息找出平衡下一个样品的方式。”

Greyson的新方法可以广泛应用于各种半导体样品，尺寸从12英寸的碟片到10μm的片。该新型方法可以特别有效地检测2维电子材料，如石墨烯材料。检测的尺寸可以小到研究者无法在其表面上的不同位置上进行测试。 

新材料在线编译整理——翻译：陈琼     校正：摩天轮